Wybrana konferencja już się odbyła 11-05-2008 - 14-05-2008
PPM 2008 - Podstawowe Problemy Metrologii
Przedmiotem zainteresowania konferencji będą zagadnienia teoretyczne, techniczne, organizacyjno-prawne i technologiczne wspólne dla wszystkich rodzajów pomiarów. Konferencja będzie forum wymiany doświadczeń wszystkich osób zainteresowanych podsta-wowymi problemami metrologii, w szczególności pracowników uczelni zajmujących się nauczaniem metrologii, pracowników polskiej służby miar oraz laboratoriów badawczych i pomiarowych.
Konferencja będzie obejmowała następujące wątki tematyczne:
1. Podstawowe zagadnienia teorii pomiaru
2. Problemy techniczne i prawne wzorców miar i wzorców jednostek miar
3. Techniki pomiarów dokładnych i wzorcowanie przyrządów pomiarowych
4. Metodyka oceny niedokładności pomiarów, przyrządów pomiarowych i systemów pomiarowych
5. Teoria i praktyka szacowania budżetu niepewności wyniku pomiaru
6. Spójność przyrządów pomiarowych a jednolitość pomiarów
7. Teoria systemów pomiarowych i przyrządów wirtualnych
8. Nowe koncepcje projektowania i budowy aparatury pomiarowej
9. Przetwarzanie sygnałów pomiarowych
10. Zastosowanie narzędzi informatycznych w aparaturze i systemach pomiarowych
11. Organizacja i akredytacja laboratoriów badawczych
12. Dydaktyka metrologii
Początek konferencji: 11-05-2008 Koniec konferencji: 14-05-2008
dodaj konferencję do:
Lokalizacja konferencji :
Hotel Monttis
Sucha Beskidzka
Organizator konferencji:
Politechnika Śląska Instytut Metrologii, Elektroniki i Automatyki ul. Akademicka 10 44-100 Gliwice woj.